x射线荧光仪(x射线能探测的元素)
资讯
2023-10-29
451
1. x射线荧光仪,x射线能探测的元素?
X射线荧光光谱仪 简称XRF,可以测F以后的大多数元素,对金属元素的测量较非金属元素来说要相对准确些,而F之前的元素则无法测量,属于半定量测量,准确定量需要绘制标准曲线。一般从钠(11)~铀(92)之间的元素都可以测试(元素周期表上11~19号元素)2. 能量色散x射线光谱仪特点?
能量色散型X荧光光谱仪主要特点:
灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究,均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量,到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定,系统的应用不受任何限制,在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下,均可对块状材料以及薄膜进行分析。
快速——得益于帕纳科荣获的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法,只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。
前瞻性——如果出现新的应用,只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。
X荧光光谱仪由于具有分析快速、制样简单,准确度高、对环境无污染等优点,现已广泛应用于各个领域,成为理化检验不可或缺的设备。
3. X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别?
X射线衍射仪(XRD)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。 X射线荧光光谱仪(XRF)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。 两种仪器构造与使用对象不同,XRD要复杂,XRF通常比较小。
4. xrf检测是什么意思?
xrf检测指的是X射线荧光光谱仪,可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。
5. X射线荧光光谱仪的原理是什么?
X射线光电子能谱分析
X射线光电子能谱法(X-ray PhotoelEctron Spectrom-----XPS)在表面分析领域中是一种崭新的方法。虽然用X射线照射固体材料并测量由此引起的电子动能的分布早在本世纪初就有报道,但当时可达到的分辩率还不足以观测到光电子能谱上的实际光峰。直到1958年,以Siegbahn为首的一个瑞典研究小组首次观测到光峰现象,并发现此方法可以用来研究元素的种类及其化学状态,故而取名“化学分析光电子能谱(Eletron Spectroscopy for Chemical Analysis-ESCA)。目前XPS和ESCA已公认为是同义词而不再加以区别。
XPS的主要特点是它能在不太高的真空度下进行表面分析研究,这是其它方法都做不到的。当用电子束激发时,如用AES法,必须使用超高真空,以防止样品上形成碳的沉积物而掩盖被测表面。X射线比较柔和的特性使我们有可能在中等真空程度下对表面观察若干小时而不会影响测试结果。此外,化学位移效应也是XPS法不同于其它方法的另一特点,即采用直观的化学认识即可解释XPS中的化学位移,相比之下,在AES中解释起来就困难的多。
1 基本原理
用X射线照射固体时,由于光电效应,原子的某一能级的电子被击出物体之外,此电子称为光电子。
如果X射线光子的能量为hν,电子在该能级上的结合能为Eb,射出固体后的动能为Ec,则它们之间的关系为: hν=Eb+Ec+Ws 式中Ws为功函数,它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外,还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面,即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为: Eb=hν-Ec-Ws 可见,当入射X射线能量一定后,若测出功函数和电子的动能,即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出,因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这正是光电子能谱仪的基本测试原理。
6. x荧光光谱仪怎样测试金属的含量的检测标准?
一、X荧光光谱仪测试方法:
1、X荧光光谱仪样品制备
进行x射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。无论什么样品,样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误筹;化学组成相同,热处理过程不同的样品,得到的计数率也不同;成份不均匀的金属试样要重熔,快速冷却后车成圆片;对表面不平的样品要打磨抛光;对于粉末样品,要研磨至300目一400目,然后压成圆片,也可以放人样品槽中测定。对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面,则可以把试样用酸溶解,再沉淀成盐类进行测定。对于液态样品可以滴在滤纸上,用红外灯蒸干水份后测定,也可以密封在样品槽中。总之,所测样品不能含有水、油和挥发性成份,更不能含有腐蚀性溶剂。
2、X荧光光谱仪定性分析
不同元素的荧光x射线具有各自的特定波长或能量,因此根据荧光x射线的波长或能量可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2e角可以求出x射线的波长入,从而确定元素成份。对于能量色散型光谱仪,可以由通道来判别能量,从而确定是何种元素及成份。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时,仍需人工鉴别。首先识别出x光管靶材的特征x射线和强峰的伴随线,然后根据能量标注剩余谱线。在分析未知谱线时,要同时考虑到样品的来源、性质等元素,以便综合判断。
7. x射线荧光分析仪的使用?
x射线荧光分析仪是不可以测有机物的。测金属镀层效果很好。我司专业生产这个。
本站涵盖的内容、图片、视频等数据系网络收集,部分未能与原作者取得联系。若涉及版权问题,请联系我们删除!联系邮箱:ynstorm@foxmail.com 谢谢支持!
1. x射线荧光仪,x射线能探测的元素?
X射线荧光光谱仪 简称XRF,可以测F以后的大多数元素,对金属元素的测量较非金属元素来说要相对准确些,而F之前的元素则无法测量,属于半定量测量,准确定量需要绘制标准曲线。一般从钠(11)~铀(92)之间的元素都可以测试(元素周期表上11~19号元素)2. 能量色散x射线光谱仪特点?
能量色散型X荧光光谱仪主要特点:
灵活——无论是工业生产控制还是深入的材料研究,均可根据单独的带药求进行定制。从未知物相鉴定和混合物定量,到诸如残余应力和晶粒择优取向的微观结构属性测定,系统的应用不受任何限制,在所有领域都体现出高性能。在常温或非环境温度条件下,均可对块状材料以及薄膜进行分析。
快速——得益于帕纳科荣获的光学部件和平台PreFIX-即预校准光路的安装方法,只需几分钟即可完成重新配置并执行不同类型的分析。
前瞻性——如果出现新的应用,只需增加必要的模块即可。开放式硬件设计结构确保了X'Pert Powder与将来X射线衍射方面的开发兼容。
X荧光光谱仪由于具有分析快速、制样简单,准确度高、对环境无污染等优点,现已广泛应用于各个领域,成为理化检验不可或缺的设备。
3. X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪的区别?
X射线衍射仪(XRD)是矿物学研究领域内的主要仪器,用于对结晶物质的定性和定量分析。 X射线荧光光谱仪(XRF)是通过测定二次荧光的能量来分辨元素的,可做定量或定性分析。 两种仪器构造与使用对象不同,XRD要复杂,XRF通常比较小。
4. xrf检测是什么意思?
xrf检测指的是X射线荧光光谱仪,可以快速同时对多元素进行测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。
5. X射线荧光光谱仪的原理是什么?
X射线光电子能谱分析
X射线光电子能谱法(X-ray PhotoelEctron Spectrom-----XPS)在表面分析领域中是一种崭新的方法。虽然用X射线照射固体材料并测量由此引起的电子动能的分布早在本世纪初就有报道,但当时可达到的分辩率还不足以观测到光电子能谱上的实际光峰。直到1958年,以Siegbahn为首的一个瑞典研究小组首次观测到光峰现象,并发现此方法可以用来研究元素的种类及其化学状态,故而取名“化学分析光电子能谱(Eletron Spectroscopy for Chemical Analysis-ESCA)。目前XPS和ESCA已公认为是同义词而不再加以区别。
XPS的主要特点是它能在不太高的真空度下进行表面分析研究,这是其它方法都做不到的。当用电子束激发时,如用AES法,必须使用超高真空,以防止样品上形成碳的沉积物而掩盖被测表面。X射线比较柔和的特性使我们有可能在中等真空程度下对表面观察若干小时而不会影响测试结果。此外,化学位移效应也是XPS法不同于其它方法的另一特点,即采用直观的化学认识即可解释XPS中的化学位移,相比之下,在AES中解释起来就困难的多。
1 基本原理
用X射线照射固体时,由于光电效应,原子的某一能级的电子被击出物体之外,此电子称为光电子。
如果X射线光子的能量为hν,电子在该能级上的结合能为Eb,射出固体后的动能为Ec,则它们之间的关系为: hν=Eb+Ec+Ws 式中Ws为功函数,它表示固体中的束缚电子除克服各别原子核对它的吸引外,还必须克服整个晶体对它的吸引才能逸出样品表面,即电子逸出表面所做的功。上式可另表示为: Eb=hν-Ec-Ws 可见,当入射X射线能量一定后,若测出功函数和电子的动能,即可求出电子的结合能。由于只有表面处的光电子才能从固体中逸出,因而测得的电子结合能必然反应了表面化学成份的情况。这正是光电子能谱仪的基本测试原理。
6. x荧光光谱仪怎样测试金属的含量的检测标准?
一、X荧光光谱仪测试方法:
1、X荧光光谱仪样品制备
进行x射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。无论什么样品,样品制备的情况对测定误差影响很大。对金属样品要注意成份偏析产生的误筹;化学组成相同,热处理过程不同的样品,得到的计数率也不同;成份不均匀的金属试样要重熔,快速冷却后车成圆片;对表面不平的样品要打磨抛光;对于粉末样品,要研磨至300目一400目,然后压成圆片,也可以放人样品槽中测定。对于固体样品如果不能得到均匀平整的表面,则可以把试样用酸溶解,再沉淀成盐类进行测定。对于液态样品可以滴在滤纸上,用红外灯蒸干水份后测定,也可以密封在样品槽中。总之,所测样品不能含有水、油和挥发性成份,更不能含有腐蚀性溶剂。
2、X荧光光谱仪定性分析
不同元素的荧光x射线具有各自的特定波长或能量,因此根据荧光x射线的波长或能量可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪,对于一定晶面间距的晶体,由检测器转动的2e角可以求出x射线的波长入,从而确定元素成份。对于能量色散型光谱仪,可以由通道来判别能量,从而确定是何种元素及成份。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时,仍需人工鉴别。首先识别出x光管靶材的特征x射线和强峰的伴随线,然后根据能量标注剩余谱线。在分析未知谱线时,要同时考虑到样品的来源、性质等元素,以便综合判断。
7. x射线荧光分析仪的使用?
x射线荧光分析仪是不可以测有机物的。测金属镀层效果很好。我司专业生产这个。
本站涵盖的内容、图片、视频等数据系网络收集,部分未能与原作者取得联系。若涉及版权问题,请联系我们删除!联系邮箱:ynstorm@foxmail.com 谢谢支持!